クラック検査

クラック検査

FOERSTER社の検査システムで、中間製品のみならず個々の部品の様々な表面欠陥を非破壊で検査することができます。検出したい欠陥の種類(スポットきずや縦きず、横きず)や試験する材質に応じて様々な検査装置があります。検査装置は渦電流探傷試験法、漏洩磁束探傷法、 あるいは 赤外線サーモグラフィーといったそれぞれ異なる技術に基づき検査を行います。また、メンテナンス用にポータブルのクラック検査装置が使用されます。

以下に、クラック検査用のFOERSTER社の様々なシステムや検査装置の概要が記載されています。


CIRCOFLUX:CIRCOFLUXは、AC漏洩磁束探傷法により縦方向の表面欠陥を検査します。渦電流検査では、交流磁界の漏洩磁束探傷法とは対照的に粗い材料表面で多くの干渉信号が発生するため、CIRCOFLUXは特に黒皮材料で使用されます。

CIRCOGRAPH:CIRCOGRAPH検査装置は材料外表面の縦欠陥を確実に検知することができます。その際、回転プローブは非接触で渦電流を材料表面に流して走査します。

DEFECTOMAT: DEFECTOMATは、中間製品のスポットきずおよび横きずを検査します。さらに、オプションのFerromatチャンネルは非鉄金属中のFE混入を検査することができます。検査内容に応じて、様々なコイルが使用できます。

DEFECTOMETER:ポータブル検査装置DEFECTOMETERは手動のメンテナンス検査に使用されます。これにより、深さ20 µm以上のクラックを検知することができます。

DEFECTOSCOP:汎用コンピューター支援タイプの検査装置DEFECTOSCOPは、ポータブルのメンテナンス検査装置として導電性材料の亀裂やミクロ組織を検査することができます。

DEFECTOVISION:DEFECTOVISION検査システムは赤外線サーモグラフィーで動作します。温度分布を解析することによって、例えばビレットやレール等の微細な表面欠陥を検出し、可視化することができます。

ROTOMAT/TRANSOMAT:ROTOMATおよびTRANSOMAT検査システムは特に大径の管用に開発され、管内径側と外側の表面欠陥を直流磁界漏洩磁束探傷法で検査します。

ROTOPUSH / ROTOSCAN:ROTOPUSHおよびROTOSCANは完全自動化の検査装置であり、渦電流探傷法によって円筒形状やリング状の部品の亀裂を検査し、良品と不良品を振り分けます

STATOGRAPH:STATOGRAPH検査装置は、渦電流探傷法を使って部品の自動クラック検出用に開発されました。様々な検査タスクに対応する複数の異なるセンサーが用意されています。

用途別製品 クラック検査