縦方向欠陥のためのコンパクトな検査システム
CIRCOGRAPH CI は、高精度の回転探傷システムの中にコンパクトなデザインと直感的な操作を一体化しています。CIRCOGRAPH CI は、使いやすい操作と単純な「ターン・アンド・プッシュ」操作になっています。この2チャンネルのシステムは幅広いレンジの回転ヘッド中から検査タスクに最適に適応します。材料表面の縦方向欠陥は、 30 µm の深さから検出することができます。
利点の概要:
- コンパクトモデル
- 統合されたオペレーティングユニットとターン・アンド・プッシュ操作による簡単操作
- 個々のアプリケーションや要件に適応できる万能検査システム
- 2チャンネルの検査システム
- 連続モードでのテスト
- 30 µm 以上の欠陥検出能
テクニカルデータ
検査材料: | 強磁性材、オーステナイト及び非強磁性材料 |
センサーシステム: | 最大 2 つ(RO 20とRo35)の向き合っているテストヘッドを有する回転するセンサーシステム |
検査周波数: | 30 kHz ~ 1 MHz |
最大処理速度: | 3 m/s |
欠陥検出能: | Ro 20 / Ro 35 で30 µm 以上 |