最高水準マルチチャンネル渦電流探傷
CIRCOGRAPH DAで管や棒、線材のような長い材料の長手方向の表面欠陥を非破壊の渦電流探傷で検査をすることによって新たな基準が構築されます。CIRCOGRAPH DAは洗練されたシステムアーキテクチャーと高度なデジタルエレクトロニクスを組み合わせることにより、速い検査速度で卓越した再現性を提供します。デジタル化はセンサー側で直接行われます。外部からの妨害要因を低減するために、アナログの探傷信号の経路は最短化されています。最新の技術と高度な情報処理能力を有するCIROCOGRAPH DAは既存の生産ラインにも融合できます。
Cスキャンによる探傷信号の画像化によって全体がより分かりやすく
新世代のCIRCOGRAPH DAは探傷信号をCスキャンとして表示することが可能です。信号シーケンスとして、全長では全チャンネルの信号の合成成分として表示します。欠陥位置は長手方向に表示されます。加えて、Cスキャン表示では信号が円周方向にも表示されます。これによって、オペレーターは材料表面の欠陥がどのように分布しているのかを把握することができます。
利点の概要
- 産業用応用機器仕様のコンパクトで堅牢な設計
- 将来の拡張性を考えたモジュラー構造
- オプションで DEFECTOMATセンサーシステムを追加
- マルチプレックス動作無しで最大256の測定チャンネル
- センサー側で直接デジタル化
- 試験周波数は30KHzから1MHzまで100Hzステップで調整可能
- デジタル・スピード・シフトフィルター:フィルターは速度の変化に沿って動く
- CIRCOGRAPHの回転ヘッドは非接触で速度6m/秒までの探傷が可能
テクニカルデータ
測定チャンネル: | リアルタイムで最大256チャンネル(マルチプレックス動作無し) |
探傷周波数: | 30KHz - 1MHz (100Hzステップで調整可能) |
フィルター: | デジタル・スピード・シフトフィルター:探傷速度に合してフィルターポジション調整 |
探傷速度: | 最大6m/秒 |
センサーモニタリング: | 断線、オーバーロード、自動センサー認識 |
Patent
The CIRCOGRAPH DA uses processes patented to Institut Dr. Foerster GmbH & Co. KG, including US 8907828 B2 "METHOD AND DEVICE FOR TESTING THE MATERIAL OF A TEST OBJECT IN A NONDESTRUCTIVE MANNER". Also protected in many other countries worldwide.