縦方向欠陥の精密探傷
CIRCOGRAPH DI は、基本的にCIRCOGRAPH CI と同じ試験性能を有しますが、統合されたオペレーティングコンピュータは省略されています。必要に応じて、CIRCOGRAPH DI は、記録の保存機能などの機能を付け加えることができます。
外部の制御コンピュータと接続することによって操作、管理および記録の保存を行えます。このシステムは、2次加工品の材料表面の長手方向欠陥を精密に検査します。様々なセンサーシステムは、検査タスクに応じて選択できます。CIRCOGRAPH DI のコンパクトな設計によって、ほとんどすべての製造ラインへの導入が可能です。
利点の概要:
- コンパクトなデザインにより、製造プロセスに簡単に導入することができます
- 外部の制御コンピュータを介した簡単操作
- 個々のアプリケーションや要件に適応できる万能検査システム
- 2チャンネルの検査システム
- 連続モードでのテスト
- 30 µm 以上の欠陥検出能
- 直感的な操作ソフトウェア
テクニカルデータ
検査材料: | 強磁性材、オーステナイト及び非強磁性材料 |
センサーシステム: | 最大 2 つ(RO 20とRo35)の向き合っているテストヘッドを有する回転するセンサーシステム |
検査周波数: | 30 kHz ~ 1 MHz |
最大処理速度: | 3 m/s |
欠陥検出能: | Ro 20 / Ro 35 において 30 µm 以上 |