AC漏洩磁束探傷

交流磁界（AC)漏洩磁束探傷では、交流電流を流す2つの磁化ヨークを使用します。これらの磁化ヨークは試験材料を非接触で周方向に磁化します。磁束は材料面上に集まり、約100 µmの深さより小さなミクロンオーダーの表面欠陥を検出します。ヨークと試験材料間の間隔は数ミリです。ヨークの間に保護されたプローブ付きのテストシューがあり、これは表面に触れてスキャンします。
複数の並んだプローブが一瞬ごとに探傷するのは表面全体のごく小さな部分のみです。そのため、極小のきずでも相対的に大きな欠陥として検知されます。
欠陥のない材料では、磁束が材料内に閉じたループを形成します。
開口した欠陥があると漏れ磁束が生じます。ヨークの周波数が高ければ高いほど、磁化電流 (表皮効果)の流れが表面に近くなります。材料表面の欠陥においては漏洩磁束は材料表面よりも欠陥の上に生じます。これは漏れ磁束と呼ばれ、最終的に信号という形でで探傷装置上に表示されます。